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BYK 4840桔皮儀 dual 1. 針對平面和曲面(曲率半徑大于50cm) 2. 傳統的 LW、SW 和客戶自定義標尺 3. 測量范圍擴展到中光澤表面 4. 結構譜線分析外觀變化,實現優化 5. 晦澀度 du 和 DOI 的測量與涂裝系統無關 6. 輕松的滾輪操作,大型多語言顯示屏